Obiekt

Tytuł: Geodezyjne pomiary odkształceń wieżowców ze szczególnym uwzględnieniem prac prowadzonych na terenie Pałacu Kultury i Nauki w Warszawie

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

3 gru 2020

Data dodania obiektu:

30 lis 2018

Liczba wyświetleń treści obiektu:

479

Liczba wyświetleń treści obiektu w formacie PDF

464

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

http://bc.igik.edu.pl/publication/1051

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

×

Cytowanie

Styl cytowania:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji